設備特征:
1.自主研發檢測(ce)算法。
2.自主研發成像機構。
3.可檢測TP銀(yin)線(xian)ITO,雙面TP粒子偏(pian)位、壓(ya)痕不良缺陷。
4. LCD尺(chi)寸:1.44-7寸
設備詳情: